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工

作

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態(tài)

度

，


個產(chǎn)品，

對待每一

做到極致認(rèn)真

每一個零件
細(xì)
致

每一組數(shù)據(jù)

  • 智能型HMDS真空系統(tǒng)（JS-HMDS90-AI）
  • 潔凈烘箱，百級無塵烘箱
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高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機(jī)
    發(fā)布時間: 2021-12-08 14:34    

高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機(jī)簡介：

      高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機(jī)主要用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,通過測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件，作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒龈倪M(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。

高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機(jī)技術(shù)性能：


機(jī)型

JS-GDCJ-100/150/200/500B

測試環(huán)境條件

環(huán)境溫度為+25℃、試驗箱內(nèi)無試樣條件下

測試方法

GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設(shè)備

高溫室

預(yù)溫度范圍

RT～+200℃

升溫時間

RT+10℃→+200℃ ≤40min

注：升溫時間為高溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能

低溫室

預(yù)冷溫度范圍

RT~-70℃

降溫時間

RT → -70℃≤60min

注：降溫時間為低溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能

試驗室（試樣區(qū)）

試驗方式

氣動風(fēng)門切換

 3 溫區(qū)沖擊試驗條件（高溫-常溫-低溫）

 2 溫區(qū)沖擊試驗條件（高溫-低溫）

溫度沖擊范圍

-55℃～ +80℃

溫度波動度

±0.5℃

溫度偏差

±2.0℃

溫度恢復(fù)時間

≤5min

恢復(fù)條件

試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風(fēng)側(cè)

高溫曝露： RT~+150℃：≥30分鐘

環(huán)境溫度曝露：常溫

低溫曝露： RT~-55℃：≥30分鐘

試樣重量：4.5kg（如需要放置重的試樣，請?zhí)崆案嬷?/span>

制冷方式

水冷

高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機(jī)滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗

2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗

3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則

4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件